環(huán)境應力篩選試驗方法

                                           環(huán)境應力篩選試驗方法

試驗目的與判據(jù)
     前已說明，在GJB 1032《電子產(chǎn)品環(huán)境應力篩選方法》中規(guī)定，在環(huán)境應力篩選的后期程序中要安排*檢驗試驗。其目的是驗證篩選的有效性。其方法是先進行80小時的溫度循環(huán)，后進行zui長15分鐘的隨機振動，所用應力參數(shù)與前面缺陷剔除程序的相同。
　　*檢驗試驗的判據(jù)是：在80小時溫度循環(huán)中如果有連續(xù)40小時*、在zui長15分鐘隨機振動中如果有連續(xù)5分鐘*，就認為產(chǎn)品通過了環(huán)境應力篩選，否則要繼續(xù)進行缺陷剔除篩選，之后再進行*檢驗試驗。
*檢驗試驗的概念與發(fā)展
    *檢驗試驗作為環(huán)境應力篩選效果的驗證試驗，要驗證產(chǎn)品是否達到了篩選方案中預期要剔除的缺陷百分值，也是衡量產(chǎn)品是否已經(jīng)消除早期失效并進入隨機失效期。隨機失效期的失效率正是裝備可靠性水平的標志。因此，*驗證試驗的zui終目的是驗證產(chǎn)品是否達到了設計的可靠性要求值。如果*檢驗試驗通過了，我們就有理由認為產(chǎn)品達到了定量環(huán)境應力篩選方案所預期的要消除缺陷的高百分值（例如98％），也就是說產(chǎn)品以該百分值的置信水平達到了可靠性設計值。從這個含義出發(fā)，我們可以用這種試驗來證明產(chǎn)品是否實現(xiàn)了設計的MTBF值，其置信概率可與環(huán)境應力篩選方案要求的相同。這就是由環(huán)境應力篩選發(fā)展而來的可靠性保證試驗的出發(fā)點。